紫光同创取得用于芯片FT测试的压块专利，解决了芯片散热盖表面测试过后产生压块圈印的问题

国家知识产权局信息显示，深圳市紫光同创电子股份有限公司取得一项名为“一种用于芯片FT测试的压块”的专利，授权公告号CN224303717U，申请日期为2025年4月。

专利摘要显示，本实用新型属于芯片测试领域，公开了一种用于芯片FT测试的压块，所述压块包括压接部和与所述压接部固定连接的连接部，所述压接部中心位置设有通孔，所述通孔贯穿所述压接部和所述连接部，所述压接部远离所述连接部的平面为压接面，所述通孔与所述压接面的连接一侧设有过渡带。本实用新型解决了现有芯片测试中芯片散热盖表面测试过后产生压块圈印的问题。

天眼查资料显示，深圳市紫光同创电子股份有限公司，成立于2013年，位于深圳市，是一家以从事住宿业为主的企业。企业注册资本54927.8942万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市紫光同创电子股份有限公司共对外投资了2家企业，参与招投标项目103次，财产线索方面有商标信息60条，专利信息518条，此外企业还拥有行政许可26个。

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