观点网讯:9月4日,华为董事何庭波在ChinaXiv平台发布论文《Huawei's τ Chip Was Supposed to Melt?》,题为“华为的τ芯片本该融化?”,正面回应外界对3D堆叠芯片高热的质疑。该论文发布于预印本平台,尚未经同行评审。
这是韬定律系列的第三篇成果:5月首发韬定律(τ定律)理论,7月更新V2完整版,9月发布本篇衍生论文。
论文核心论点是,芯片功耗的最大消耗点并非晶体管运算本身,而是芯片内部长距离数据传输,即数据“通勤能耗”。论文指出,智能手机日常负载当中,数据传输动态功耗占总功耗约九成。
据论文表述,依托韬定律与LogicFolding(逻辑折叠)3D堆叠技术,华为将二维铺开的电路垂直折叠,缩短信号传输路径,减少传输功耗损耗,抵消晶体管密度上涨带来的发热增量,实现性能提升且未出现过热问题。
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